資料來源：中華民國經濟部 標準檢驗局
發佈日期：2009/02/25
為積極推動國內奈米技術產業化、奈米產品品質齊一化，經濟部標準檢驗局委託工研院量測中心開發建置「奈米粒徑量測系統」，提供快速且準確之量測技術服務，將有助於奈米相關產業迅速蓬勃發展，提升國際競爭力。
經濟部標準檢驗局局長陳介山表示，全球先進國家均積極發展奈米技術，並廣泛應用於奈米材料與相關製程、半導體產業、醫藥品、煉油及化工產業、航太工業、軟性電子、平面顯示器等產品；本次開放業界校正服務之「奈米粒徑量測系統」，提供氣相與液相之奈米粉體粒徑量測技術服務與標準追溯，可為國內產學研發與品質規格提供準確的量測服務，並可確保研發技術規格符合國際水準。
「奈米粒徑量測系統」包括三項先進量測儀器，分別為「電重力氣膠平衡儀」、「電遷移率分析儀」與「動態光散射儀」。
簡單來說，電重力氣膠平衡儀是根據靜電力與重力間的靜力平衡關係以及量測粉體密度，以精確量測粉體粒徑尺寸於100 nm～500 nm的奈米粉體，最佳量測不確定度可小於2 nm(註1nm=1*10-9m)；電遷移率分析儀量測系統有兩個主要的應用，其一為用來連續分餾出微小範圍粒徑的奈米粉體；其二則是以比較法追溯至電重力氣膠平衡儀，可量測20 nm～500 nm的奈米粉體粒徑；至於動態光散射儀之原理是利用雷射光射入含有懸浮粒子的溶液中，再透過由雷射光因粒子產生的散射光起伏變化，計算出粒徑大小。其優點為操作簡易且迅速，是目前最常見的粉體量測儀器之一。
奈米科技的發展重點，在發揮奈米材料之新特性，在材料奈米化相關製程中，需倚靠各式奈米粉體的製造設備；而為驗證製造設備的加工性能與奈米粉體的特性，奈米粉體的檢測顯得格外重要。標檢局所提供之奈米量測系統服務，係從不同面向切入奈米技術與產業並搭配奈米標章制度，預期將有效提升國內廠商品質形象及國內外市場競爭力。
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