專利文獻的用途
根據 WIPO 的統計，專利文獻包含全世界 90~95% 的技術發明成果，並且專利文獻所揭露的技術內容，遠比其他不同科技文獻（期刊與雜誌）資料更加豐富。所以我們說，專利文獻是人類科學技術發展的百科全書，善用專利文獻資料，除可瞭解過去技術發展主軸與脈動外，更可以掌握技術未來發展趨勢。然而專利文獻的內容常牽涉到相關上位用語與法律用語（特別是專利說明書中的申請權利範圍 claim ），因此一般研發人員進行專利閱讀與技術判讀時，常有技術閱讀與權利判斷上的困難。
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圖一
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表一 US6303094 之原始摘要與 PAJ （ JP10265208 ）之對應摘要
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US6303094
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The present invention relates to a novel method of manufacturing carbon nanotubes and a method of manufacturing a nanotube film that is composed of a multitude of carbon nanotubes so oriented as to extend along a thickness direction of the film. The present invention further relates to a structure equipped with a carbon nanotube film formed on a surface of a base plate portion. In the method of the present invention, SiC is heated under vacuum to remove silicon atoms from the SiC, whereby the carbon nanotubes are formed at a portion of the SiC where the silicon atoms have been removed. This method makes it possible to manufacture carbon nanotubes with high yields as well as high purity. The carbon nanotubes formed according to this method tend to be oriented perpendicularly to the surface of the SiC crystal. Thus, it is possible to obtain a nanotube film composed of the aforementioned carbon nanotubes with a high degree of orientation. This method facilitates the manufacture of a nanotube film with a large area.
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US6303094 之日本專利家族 JP10265208 之 PAJ 摘要
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PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a new producing method of a novel carbon nanotube and a carbon nanotube film composed of many numbers of the carbon nanotubes oriented in a film thickness direction.
SOLUTION: A carbon nanotube 31 is formed on a SiC 1 of a part 11, where a silicon atom is removed by heating the SiC 1 under a vacuum. The carbon nanotube 31 having high purity is produced at a high yield by this method. Moreover since the carbon nanotube 31 formed by the method has a tendency to orient in the perpendicular direction to the surface of SiC crystal, a high oriented nanotube film 3 composed of the carbon nanotubes is obtained. The nanotube film 3 with a large area is easily produced by this method.
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Source: WIPS
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表二 US6303094 之 Derwetn Innovation Index 結果
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Description
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Classification
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Derwent Classes: E36; L03;
Manual Codes: E31-N03(C production) , L03-E01B5(Alkali metal electrodes and unspecified electrodes for alkaline cells) , L03-G05(Display devices) , L03-J(Other manufacture and treatment of electr(on)ic components and materials)
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Abstract
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A production process (A) for carbon nanotubes comprises heating a silicon carbide crystal under vacuum to remove silicon atoms.
Also claimed is a production method for carbon nanotube film.
Pref. in (A) the vacuum is 10-4 to 10-10 Torr and the heating is at 1200-2200 deg. C; in (B) the vacuum is 10-5 to 10-9 Torr and the heating is at 1400-2000 deg. C; and in (B) the carbon nanotube film is formed in a single-crystal SiC film formed on the surface of a substrate.
Use - For structures with carbon nanotube films (claimed) for electronic devices, transistor emitters, flat panel displays and lithium ion battery negative electrode materials.
Advantage - The method gives high-purity carbon nanotubes in high yields, which are highly oriented perpendicularly to the surface of the SiC crystal. The method can easily produce large-area nanotube films.
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Source: Delphion
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如何加速專利的閱讀
如何藉由適當工與技巧加速專利技術的瞭解（特別是指美國與歐洲專利文獻），進而用於後續技術改良與突破呢？根據實務經驗，我們提出三個加速專利文獻閱讀的技巧，如圖一所示，可用於直接閱讀美國專利全文前的輔助工具。
PAJ 資料庫
根據專利家族找出該專利是否具有日本專利申請，若有則先進行日本 PAJ （ Patent Abstract of Japan ）的技術內容判斷。何謂 PAJ 資料庫呢？我們知道日本專利說明書的內容當然為日文，因此想要瞭解日本專利所揭露的詳細訊息，唯一的方法就是找一個能夠閱讀日文的工程師，逐一解構該項專利所揭露的技術。然而，為了與國際專利資訊流通，或是讓一般英文使用者可以檢索或是瞭解日本專利的基本資料，日本智慧財產局便建立了日本 PAJ 資料庫，其內容為將該日文專利的首頁書目資訊英文化，並且包含該專利的代表圖式（其實對大陸與韓國專利也有相似的英文書目資料）。為何 PAJ 資料庫可以當成初步計數判讀呢？其原因乃是 PAJ 除了基本書目欄位外，尚包括將摘要內容整理成特定的 ”PROBLEM TO BE SOLVED” 與 ”SOLUTION” 等兩個欄位。
表一為 US6303094 之原始摘要與 PAJ （ JP10265208 ）之對應摘要比較，比對兩方資料，相信讀者對於 PAJ 所整理的技術內容當有初步認識。也就是藉由 PAJ 所整理的摘要，讀者可初步快速瞭解該專利技術內容。然而 PAJ 有時也無法使得上力，因為需要該專利家族同時在日本申請，才有可能出現在 PAJ 中。
DII 資料庫
Derwent Innovation Index （ DII ）從 1960 年代開始便針對全世界主要專利國家所公告的專利技術內容，進行資訊加值分析的服務。何謂資訊加值分析呢？就是 Derwent 藉由專家群（可能包括內部專家與委外專家），將每一篇專利建立起專利家族關係、專利技術內容的重新編譯、與建立獨特的分類系統 Derwent Classes 與 Manual Codes 等整理。而該公司的營運模式（ Business model ）就是販賣相關加值後的專利資料庫，以閱讀一篇加值過的專利文獻為例，現階段需要代價的代價為 6 塊錢美金。表二為 US6303094 之 Derwent Innovation Index 之結果，可以發現 Derwent 不僅將整體技術內容進行更深入的分析，並將相關的技術優缺點進行人工的判斷與整理，包括技術內容的揭露、應用領域（ Use ）與技術優勢（ Advantages ）等。經由上述 PAJ 的技術摘要內容與 Derwent Innovation Index 的專利加值內容，我們相信閱讀相關技術文件將有更好的掌握度。
中國大陸專利文獻的閱讀（ SIPO ）
除了上述了兩個主要切入方法外，若該專利之專利家族包括台灣或是中國大陸專利家族，尚可利用相關專利家族先行下載中國大陸與台灣專利全文。畢竟對台灣工程師而言，閱讀本國語言的文獻除速度較快之外，對於技術內容的掌握也會較佳。但是需要特別注意，若是該專利原本屬於歐美專利權人所申請，相關專利經由簡體中文是繁體中文的轉化翻譯常有一些差距，因此在進行技術判斷時需要特別注意。一般而言，這些專利翻譯的誤差，會以在申請權利範圍（ claims ）上的誤差最為大，並且這個資訊也最為重要。
可自由使用的公眾技術
如果以可以享用公眾知識的觀點來看（也就是將公眾知識當成該公司產品與技術發展的基礎），過期專利、放棄專利，科學文獻技術與特定技術公告（例如 IBM 先前所建立的 Technology Disclosure Board ）等，均是一個可以獲取免費技術的極佳管道。因此，若企業無法投入相關研發能量並進一步取得專利，那麼利用上述相關免費技術將能獲取意想不到的結果。畢竟，專利制度設計的目的就是為了獎勵研發成果的擴散，並鼓勵再次創新與研發的。當然，在使用放棄專利所揭露的技術時仍須特別小心，因為專利是排他權，可不是說使用了過期專利的相關技術，就不會侵犯到其他專利權人的先前專利。
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