2011年12月20日，位於加州聖荷西的一家科技顧問及解決方案提供公司YieldBoost Tech以1項專利侵權為由，控告全球最大的半導體設備供應商應用材料(Applied Materials)，這也是應用材料在短短一個月裡所必須面對的第二起專利訴訟，全案將由加州東部聯邦地院負責審理調查。
本案系爭專利US7,053,645 (System and method for detecting defects in a thin-film-transistor array)，專利發明人為Kyo Young Chung，而他同時也是YieldBoost Tech的創辦人，專利所有人則屬YieldBoost Tech，主要涉及晶體管的缺陷檢測系統和方法，而晶體管本身是電子束掃描成象的重要裝置，這類的技術則可發展出掃描電子顯微鏡等眾多產品。
本案的原告YieldBoost Tech成立於2000年9月，創辦人同時也是本案系爭專利的發明人Kyo Young Chung，他於1977年在韓國慶熙大學電機系畢業，隨即進入三星電子測試部門任職，1982年赴美國深造，在普渡大學(Purdue University)取得電機博士學位。之後，進入樂金(LG)和現代電子(Hyundai Elelctronics)等多家韓國企業歷練，並於 2000年時創立了YieldBoost Tech，主要針對顯示器製造廠商等科技公司進行解決方案提供和顧問工作，同時公司也專注於專利技術授權業務，目前YieldBoost Tech擁有12項專利。(429字；表1)
表一、專利訴訟案件基本資料：YieldBoost Tech控告應用材料
| 訴訟名稱 |
YIELDBOOST TECH, INC. v. APPLIED MATERIALS, INC. |
| 提告日期 |
2011年12月20日 |
| 原告 |
YIELDBOOST TECH, INC. |
| 被告 |
APPLIED MATERIALS, INC. |
| 案號 |
1:11-cv-02100 |
| 訴訟法院 |
THE EASTERN DISTRICT OF CALIFORNIA, FRESNO DIVISION |
| 系爭專利 |
US7,053,645 |
| 訴狀下載 |
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Source: 科技政策研究與資訊中心—科技產業資訊室整理，2012/01
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